HORIBA掘場EV 2.0 等離子體排放監(jiān)測器北崎國際
HORIBA掘場EV 2.0 等離子體排放監(jiān)測器北崎國際
在半導體制造工藝中,等離子體技術(shù)用于各種制造工藝,包括薄膜沉積和蝕刻。
它是一種等離子體發(fā)光監(jiān)測器,可用于從各種等離子室的研發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛應用,例如過程終點檢測、狀態(tài)管理和等離子體診斷。
從高分辨率、寬范圍和小尺寸三種新開發(fā)的型號中,可以根據(jù)用途選擇*規(guī)格。 此外,分析軟件可以滿足廣泛的需求,例如從血漿中的微小信號變化中檢測的終點,以及血漿過程的異常監(jiān)測。
型 |
高分辨率 EV2.0 HR |
寬范圍型 EV2.0 STD |
小型 EV2.0 LR |
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測量波長范圍 | 300 - 800 納米 | 200 - 1050 納米 | 300 - 900 納米 |
焦距 | 75 毫米 | 75 毫米 | 20 毫米 |
波長分辨率 | 1 納米 | 2.5 納米 | 6.5 納米 |
探測器 |
薄型背照式 CCD 圖像傳感器 (元件數(shù):2048 x 16) |
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傳感器單元尺寸 | 105 x 135 x 135 毫米 | 105 x 135 x 135 毫米 | 70 x 135 x 125 毫米 |
傳感器單元重量 | 850 克 | 850 克 | 610 克 |
傳感器單元電源規(guī)格 | 直流 24V | 直流 24V | 直流 24V |
應用程序 | Sigma-P、配方設(shè)計師2.0 |
* 傳感器單元和 PC 配有 AC100V 電源。
* 有關(guān)光纖、腔室適配器、多通道 PC 和其他規(guī)格,請聯(lián)系我們。
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