高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀 型S810-LT-1B庫號D397453

庫號：D397453   

高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導體設(shè)備和材料組織SEMI標準（F28-75）及標準GB/T1553-1997設(shè)計制造。本設(shè)備采用高頻光電導衰減測量方法，適用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，硅單晶壽命測量ρ≥3Ω·cm，由于對樣塊體形無嚴格要求，因此應(yīng)用于工廠的常規(guī)測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
參數(shù)
（1）電阻率測量范圍ρ≥3Ω·cm，壽命測試范圍：5~10000μs
（2）光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率＞25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關(guān)斷時間＜1μs
紅外光源波長：1.06μm（測量硅單晶），如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源。
脈沖電源：～12A
（3）高頻源
頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
（4） 放大器和檢波器
頻率響應(yīng)：2Hz～3MHz
壽命測試范圍：5~10000μs
按測量標準對儀器設(shè)備的要求，本儀器設(shè)備配有：
（5）讀數(shù)方式：可選配載流子壽命測試軟件系統(tǒng)或數(shù)字示波器讀數(shù)，軟件系統(tǒng)測試操作簡單，點擊“測量”即可，自動保存數(shù)據(jù)及相應(yīng)測試點衰減波形到數(shù)據(jù)庫，可進行查詢歷史數(shù)據(jù)和導出歷史數(shù)據(jù)等操作。

高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導體設(shè)備和材料組織SEMI標準（F28-75）及標準GB/T1553-1997設(shè)計制造。本設(shè)備采用高頻光電導衰減測量方法，適用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，硅單晶壽命測量ρ≥3Ω·cm，由于對樣塊體形無嚴格要求，因此應(yīng)用于工廠的常規(guī)測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
參數(shù)
（1）電阻率測量范圍ρ≥3Ω·cm，壽命測試范圍：5~10000μs
（2）光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率＞25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關(guān)斷時間＜1μs
紅外光源波長：1.06μm（測量硅單晶），如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源。
脈沖電源：～12A
（3）高頻源
頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
（4） 放大器和檢波器
頻率響應(yīng)：2Hz～3MHz
壽命測試范圍：5~10000μs
按測量標準對儀器設(shè)備的要求，本儀器設(shè)備配有：
（5）讀數(shù)方式：可選配載流子壽命測試軟件系統(tǒng)或數(shù)字示波器讀數(shù)，軟件系統(tǒng)測試操作簡單，點擊“測量”即可，自動保存數(shù)據(jù)及相應(yīng)測試點衰減波形到數(shù)據(jù)庫，可進行查詢歷史數(shù)據(jù)和導出歷史數(shù)據(jù)等操作。